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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14956. Ni, MK-31, DF, 52K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14956
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14957. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14957
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14958. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14958
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14959. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14959
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14960. Ni, MK-31, DF, 52K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14960
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14961. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14961
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14962. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14962
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14963. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14963
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14964. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14964
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14965. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14965
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)約5分間　のうち　C.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14966. Ni, MK-31, DF, 52K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14966
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)前回までのcryotransfer Ni を加熱ステージ　A RT.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14967. Ni, MK-31, DF, 52K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14967
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14968. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14969. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14970. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14970
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)1.53ｍV、100℃、45min　A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14971. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14971
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14972. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14972
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14973. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14973
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2.3mV、150℃、30min　A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14974. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14974
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14975. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14975
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14976. Ni, MK-31, BF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14976
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14977. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14977
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3.15ｍV、200℃、20min　A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14978. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14978
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14979. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14979
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　55min フイルム不足のため1枚のみ.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14980. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14980
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4.0ｍV,250℃　A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14981. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14981
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14982. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14982
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14983. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14983
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14984. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14984
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14985. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 28.

 アイテム
資料番号: O-14985
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)前の試料　Heating stageのまま　　A. 日付元記載「1985. 11. 28.」.

日付: 1985. 11. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14986. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 28.

 アイテム
資料番号: O-14986
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14987. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 28.

 アイテム
資料番号: O-14987
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14988. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 28.

 アイテム
資料番号: O-14988
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14989. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 28.

 アイテム
資料番号: O-14989
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14990. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 28.

 アイテム
資料番号: O-14990
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)通常stageにのせかえて.

日付: 1985. 11. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14991. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 28.

 アイテム
資料番号: O-14991
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1985. 11. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14992. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-14992
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14993. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-14993
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14994. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-14994
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14995. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-14995
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14996. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-14996
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14997. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-14997
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14998. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-14998
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14999. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-14999
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15000. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15000
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15001. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15001
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15002. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15002
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15003. Ni, A009 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15003
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A009 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15004. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15004
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15005. Ni, A001 Kuramoto, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15005
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A001 Kuramoto. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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