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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17116. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17116
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17117. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17118. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17119. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 530K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)530K.

(備考)just.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17120. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K.

(備考)just.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17121. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)260K.

(備考)over.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17122. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)260K.

(備考)under.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17123. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17124. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K. (反射ベクトルg)以上 100.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17125. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)near 110. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17126. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17127. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17128. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17129. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17130. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17131. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17133. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17133
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17134. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17135. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17136. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17137. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17138. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17139. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17140. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17141. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17142. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17143. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17144. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17145. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17146. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17147. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17148. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17149. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17150. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17150
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17151. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17152. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17153. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17154. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17155. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17155
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17156. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17156
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17157. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17157
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17158. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17158
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17159. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17159
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17160. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17160
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17161. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17161
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17162. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17162
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

(備考)スチグマ変える.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17163. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17163
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

(備考)スチグマ変える.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17164. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17165. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17166. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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