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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17267. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17267
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17268. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17268
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17269. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17269
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17270. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17270
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17271. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17271
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17272. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17272
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fine大＋3.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17273. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17273
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fine大-3.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17274. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17274
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17275. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17275
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17276. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17276
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17277. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17277
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17278. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17278
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17279. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17279
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17280. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17280
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17281. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17281
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17282. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17282
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17283. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17283
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17284. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17284
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fine大＋3.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17285. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17285
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

(備考)RT 2％　deformation.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17286. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17286
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17287. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17287
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17288. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17288
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17289. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17289
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17290. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17290
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17291. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17291
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17292. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17292
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17293. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17293
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17294. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17294
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17295. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17295
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)TW RT 2% deformation.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17296. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17296
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17297. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17297
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17298. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17298
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17299. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17299
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17300. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17300
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17301. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17301
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17302. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17302
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17303. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17303
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17304. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17304
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17305. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17305
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17306. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17306
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17307. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17307
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17308. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17308
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17310. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17310
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

(備考)TW　LiqN2　2％　deformation.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17311. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17311
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17312. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17312
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17313. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17313
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17314. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17314
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17315. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17315
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17316. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17316
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17317. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17317
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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