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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19151. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19152. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19153. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19154. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β2　13.2、2.4（140）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19155. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19155
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19156. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19156
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2　just.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19157. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19157
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2 2 step over.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19158. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19158
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2 2 step under.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19159. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19159
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19160. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19160
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　3.5、 10(160)赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19161. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19161
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19162. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19162
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19163. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19163
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19164. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19165. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19166. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19167. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋4.5、22（220）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19168. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19169. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19170. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19171. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19172. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19173. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19174. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 11K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19175. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, BF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)タケノコ.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19176. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19178. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α　-6.0、1.0（160）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19179. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19180. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19181. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19182. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19183. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19184. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A β　　-14.5、2（280）黒.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19185. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19186. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19187. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)以後111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B just.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19188. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B over 2s.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19189. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B under 2s.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19190. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)ｓ＞0.

(備考)fresh area -42、20黒.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19191. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19192. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)fresh area.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19193. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19260. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19260
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A. 日付元記載「2. 13」.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19261. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19261
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19262. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19262
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19263. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19263
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19264. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19264
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19265. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19265
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A fringe.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19266. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19266
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D fringe.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19267. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19267
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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