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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23920. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S, 52K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23920
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23921. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23921
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23922. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23922
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23923. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23923
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大 ↓.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23924. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S, ED., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23924
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23925. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S, DF, 42K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23925
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23926. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23926
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23927. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S, DF, 42K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23927
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23928. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23928
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23929. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23929
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23930. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23930
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23931. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23931
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23932. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S, BF., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23932
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23933. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23933
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23934. Cu-2Ni, T062, RTNS-II, 60℃, S, ED., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23934
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T062. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23935. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S, 42K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23935
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Bulk.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23936. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23936
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23937. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23937
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23938. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23938
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23939. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23939
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23940. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S, ED., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23940
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23941. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23941
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23942. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23942
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23943. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23943
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23944. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23944
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23945. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23945
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23946. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S, ED., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23946
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23947. Cu-2Ge, T512, RTNS-II, 60℃, S, BF　, 52K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23947
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T512. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF　. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23948. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S, DF, 42K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23948
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Bulk.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23949. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S, DF, 42K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23949
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23950. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S, DF, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23950
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小　｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23951. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23951
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23952. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23952
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23953. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23953
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23954. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23954
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23955. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23955
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23956. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23956
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大 ↓.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23957. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S, ED., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23957
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23958. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S, DF, 52K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23958
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23959. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23959
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23960. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23960
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23961. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23961
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大 ↓.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23962. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S, 52K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23962
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23963. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23963
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23964. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23964
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23965. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23965
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大 ↓.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23966. Cu-2Si, T287, RTNS-II, 60℃, S, ED., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23966
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23967. Cu-2Sｎ, T737, RTNS-II, 60℃, S, 42K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23967
範囲と内容

(試料)Cu-2Sｎ. (EM/D3)D3. (試料番号)T737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Bulk.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23968. Cu-2Sｎ, T737, RTNS-II, 60℃, S, 52K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23968
範囲と内容

(試料)Cu-2Sｎ. (試料番号)T737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23969. Cu-2Sｎ, T737, RTNS-II, 60℃, S., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23969
範囲と内容

(試料)Cu-2Sｎ. (試料番号)T737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)　　 ｜.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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