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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10148. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10148
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)うすい.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10149. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10149
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10150. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10150
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10151. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10151
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10152. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10152
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10153. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10153
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10154. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10154
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10155. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10155
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)やや厚い.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10156. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10156
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10157. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10157
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10158. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10158
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10159. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10159
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10160. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10160
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10161. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10161
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10162. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10162
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10163. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10163
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10164. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10164
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10165. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10165
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10166. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10166
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10167. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10167
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10168. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10168
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10169. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10169
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10170. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10170
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10171. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10171
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10172. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10172
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10173. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10173
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10174. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10174
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10175. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10175
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10176. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10176
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10177. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10177
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10178. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10178
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10179. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10179
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10180. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987]10/19.

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資料番号: L-10180
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10181. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10181
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)diffは上と同じ.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10182. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10182
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10183. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10183
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10184. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10184
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10185. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10185
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10186. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10186
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10187. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10187
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10188. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10188
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10189. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10189
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10190. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10190
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10191. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10191
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10192. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10192
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10193. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10193
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10194. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10194
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10195. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10195
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10196. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10196
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ近く.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10197. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10197
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ近く.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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