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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28004. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28004
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28005. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28005
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28006. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28006
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)Void居ない　エッジ近くのものはピット.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28007. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28007
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28008. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28008
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28009. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, EF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28009
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)EF.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28010. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28010
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28011. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28011
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28012. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28012
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)厚い.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28013. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28013
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28014. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28014
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28015. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28015
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28016. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28016
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28017. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28017
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28018. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28018
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28019. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28019
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28020. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28020
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28021. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28021
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上の部分は歪んでいるため隣の部分.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28022. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28022
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28023. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28023
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28024. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28024
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28025. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28025
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200 spot near 110 pole. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ボイドいない.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28026. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28026
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)同上.

(備考)ピット.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28027. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28027
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)同上.

(備考)ボイド？.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28028. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28028
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)D3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28029. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28029
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28030. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28030
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)同じグレインB.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28031. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28031
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)同じグレインC.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28032. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28032
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28033. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28033
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28034. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28034
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28035. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28035
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28036. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28036
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28037. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28037
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28038. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28038
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28039. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28039
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28040. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28040
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小 .

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28041. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28041
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28042. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28042
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28043. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28043
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)B.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28044. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28044
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28045. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28045
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28046. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28046
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28047. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28047
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28048. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28048
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)C～.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28049. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28049
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)C～.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28050. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28050
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28051. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28051
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28052. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28052
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28053. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28053
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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