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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28454. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28454
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α'.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28455. Cu, A861, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28455
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α'.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28456. Cu, A861, 200℃, SS, BF., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28456
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α'.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28457. Cu, A861, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28457
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28458. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28458
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28459. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28459
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28460. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28460
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28461. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28461
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28462. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28462
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28463. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28463
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28464. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28464
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28465. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28465
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28466. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28466
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28467. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28467
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28468. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28468
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28469. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28469
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28470. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28470
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28471. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28471
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28472. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28472
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28473. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28473
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28474. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28474
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28475. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28475
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28476. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28476
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28477. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28477
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28478. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28478
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)フイルム入れ替え.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28479. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28479
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28480. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28480
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28481. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28481
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28482. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28482
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28483. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28483
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)完.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28484. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28484
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28485. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28485
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28486. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28486
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28487. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28487
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28488. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28488
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28489. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28489
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28490. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28490
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28491. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28491
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28492. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28492
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28493. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28493
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28494. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28494
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28495. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28495
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28496. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28496
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28497. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28497
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28498. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28498
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28499. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28499
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28500. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28500
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28501. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28501
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28502. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28502
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28503. Cu, A861, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28503
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)　＋3.0　5.5（200）赤.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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