北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28504. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28504

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28505. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28505

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28506. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28506

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28507. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28507

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28508. Cu, A861, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28508

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28509. Cu, A861, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28509

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　-4.0　10(20)赤.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28510. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28510

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28511. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28511

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28512. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28512

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28513. Cu, A861, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28513

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28514. Cu2Ni, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28514

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28515. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28515

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28516. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28516

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28517. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28517

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28518. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28518

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28519. Cu2Ni, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28519

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28520. Cu2Ni, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28520

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28521. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28521

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28522. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28522

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28523. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28523

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28524. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28524

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28525. Cu2Ni, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28525

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28526. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28526

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28527. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28527

範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)完.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28528. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, 52K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28528

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28529. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28529

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28530. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28530

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28531. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28531

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28532. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28532

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28533. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28533

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28534. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28534

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28535. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28535

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28536. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28536

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28537. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28537

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28538. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28538

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28539. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28539

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28540. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28540

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28541. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28541

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28542. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28542

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28543. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28543

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28544. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28544

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28545. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28545

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28546. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28546

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28547. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28547

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28548. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28548

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28549. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28549

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28550. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, 100K., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28550

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28551. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28551

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じ　ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28552. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28552

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)上と同じ　ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28553. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

アイテム

資料番号: O-28553

範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じ　ｇ.

日付: [1986年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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