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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28605. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28605
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28606. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28606
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28607. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28607
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28608. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28608
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28609. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28609
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28610. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28610
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28611. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28611
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28612. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28612
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28613. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28613
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28614. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28614
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28615. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28615
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28616. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28616
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28617. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28617
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28618. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28618
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28619. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28619
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28620. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28620
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28621. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28621
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28622. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28622
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28623. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28623
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28624. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28624
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28625. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28625
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28626. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28626
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28627. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28627
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28628. Cu, A862, 200℃, M, BF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28628
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「1986. 8. 2. a.m. 9:00」.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28629. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28629
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28630. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28630
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28631. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28631
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28632. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28632
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28633. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28633
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28634. Cu, A862, 200℃, M, BF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28634
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28635. Cu, A862, 200℃, M, BF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28635
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28636. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28636
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28637. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28637
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28638. Cu, A862, 200℃, M, BF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28638
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28639. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28639
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28640. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28640
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　1枚番号合わず.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28641. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28641
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28642. Cu, A862, 200℃, M, BF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28642
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28643. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28643
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28644. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28644
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28645. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28645
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28646. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28646
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28647. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28647
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28648. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28648
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28649. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28649
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28650. Cu, A862, 200℃, M, BF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28650
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28651. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28651
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28652. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28652
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28653. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28653
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28654. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28654
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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