北海道大学工学部精密工学科物理工学講座
42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28857. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K.
(備考)voids.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28858. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)voids.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28859. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s-0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28860. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)voidはdislocation近くのみ.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28861. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28862. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s>>0 (4).
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28863. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28864. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28865. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28866. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28867. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28868. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28869. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28870. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28871. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28872. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28873. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28874. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28875. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28876. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28877. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28878. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28879. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28880. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28881. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28882. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28883. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28884. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28885. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28886. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28887. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28888. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28889. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28890. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28891. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28892. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28893. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28894. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28895. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28896. Kohyma Ni, S, ED., [1986年8月2日.]
(試料)Kohyma Ni. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28897. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, BF, 42K., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)ダメ 厚すぎる.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28898. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, 42K., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28899. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, BF, 52K?., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K?. (ブラック条件からのずれs)s小.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28900. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, DF, 52K?., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K?. (ブラック条件からのずれs)s小.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28901. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28902. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, 52K., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28903. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)st.1.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28904. Cu-0.3Ge, G632, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28905. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28906. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.
追加の絞り込み:
- 主題
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
- ニッケル 7654
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
- 銅 4972
- 金 4713
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
- 銅合金 2961
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
- ステンレス鋼 2416
- ニッケル合金 2218
- 鉄 1903
- 銀 1305
- 鉄合金 970
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
- バナジウム 313
- ムライト 246
- アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
- モリブデン 224
- アルミニウム 128
- ゲルマニウム 84
- 炭化珪素 53
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 53
- ノート 40
- 材料試験 40
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
- 記録ノート Notebooks 40
- 電子顕微鏡 40
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16