メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28907. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28907
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28908. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28908
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28909. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28909
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28910. Cu-0.3Ge, G632, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28910
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28911. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 16K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28911
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28912. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28912
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28913. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28913
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28914. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28914
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28915. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28915
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28916. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28916
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28917. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28917
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)場所ずれている.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28918. Cu-0.3Ge, G632, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28918
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28919. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28919
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28920. Cu-0.3Ge, G632, M, BF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28920
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28921. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28921
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28922. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28922
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28923. Cu-0.3Ge, G632, M., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28923
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28924. Cu-0.3Ge, G632, M., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28924
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28925. Cu-0.3Ge, G632, M., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28925
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28926. Cu-0.3Ge, G632, M., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28926
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28927. Cu-0.3Ge, G632, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28927
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28928. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28928
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28929. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28929
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28930. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28930
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28931. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28931
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28932. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28932
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28933. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28933
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28934. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28934
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28935. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28935
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28936. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28936
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28937. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28937
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28938. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28938
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28939. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28939
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28940. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28940
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28941. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28941
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28942. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28942
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28943. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28943
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28944. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28944
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28945. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28945
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28946. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28946
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28947. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28947
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28948. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28948
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28949. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28949
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28950. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28950
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28951. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28951
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28952. Cu-0.3Ni, G752, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28952
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G752. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28953. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28953
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28954. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28954
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28955. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28955
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28956. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28956
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ