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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28957. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28957
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28958. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28958
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28959. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28959
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28960. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28960
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28961. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28961
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28962. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28962
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28963. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 21K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28963
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28964. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28964
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28965. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28965
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28966. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28966
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28967. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28967
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28968. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28968
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28969. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28969
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28970. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28970
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28971. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, BF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28971
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28972. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28972
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28973. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28973
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28974. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28974
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28975. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28975
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28976. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28976
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28977. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28977
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28978. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 21K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28978
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28979. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28979
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28980. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28980
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28981. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28981
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28982. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28982
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28983. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28983
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28984. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28984
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28985. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28985
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28986. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 21K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28986
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)歪のため横へ　　st.2.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28987. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28987
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28988. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28988
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28989. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28989
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28990. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28990
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28991. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28991
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28992. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28992
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28993. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28993
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)同じGrain GB上.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28994. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28994
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28995. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28995
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28996. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28996
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28997. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28997
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28998. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28998
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28999. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28999
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29000. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-29000
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29001. Ni, Kohyama, RT, S, BF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-29001
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α. Polished Yesterday by Kojima. 日付元記載「1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00」.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29002. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-29002
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29003. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-29003
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29004. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-29004
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29005. Ni, Kohyama, RT, S, BF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-29005
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29006. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-29006
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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