北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29007. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29007

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29008. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29008

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29009. Ni, Kohyama, RT, S, BF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29009

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29010. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29010

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29011. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29011

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29011(ママ). DF, 100K., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29109

範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29012. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29012

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29013. Ni, Kohyama, RT, S, BF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29013

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29014. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29014

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29015. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29015

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29016. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 52K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29016

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29017. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29017

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29018. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29018

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29019. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29019

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29020. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29020

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over 2step コンタミ像.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29021. Ni, Kohyama, RT, S, DF, 100K., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29021

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under 2step.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29022. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29022

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29023. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29023

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29024. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29024

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)of fresh area.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29025. Ni, Kohyama, RT, S, ED., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29025

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)after spot Ill. of 10min.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29026. Ni, Kohyama, RT, S, DF., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29026

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29027. Ni, Kohyama, RT, S, DF., 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

アイテム

資料番号: O-29027

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Kohyama. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: 1986. 8. 3 (Sun) a.m. 9:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29028. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29028

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29029. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29029

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29030. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29030

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29031. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29031

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29032. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29032

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29033. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29033

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29034. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29034

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29035. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29035

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29036. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29036

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29037. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29037

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29038. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29038

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29039. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29039

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29040. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29040

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29041. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29041

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29042. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29042

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29043. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29043

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29044. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29044

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29045. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29045

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29046. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29046

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0　ミス.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29047. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29047

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29048. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29048

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29049. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29049

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29050. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29050

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29051. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29051

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29052. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29052

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29053. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29053

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓　s increase.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29054. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29054

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29055. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

アイテム

資料番号: O-29055

範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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