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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29958. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29958
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29959. Au, A442, RTNS-II, 450℃, M., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29959
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A442. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29960. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29960
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29961. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29961
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29962. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29962
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29963. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29963
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29964. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29964
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29965. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29965
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29966. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29966
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)隣厚さは同じくらい.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29967. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29967
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)更にとなり.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29968. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29968
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)更にとなり.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29969. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29969
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29970. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29970
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29971. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29971
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29972. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29972
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29973. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29973
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29974. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29974
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29975. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29975
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29976. Cu, A763, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29976
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A763. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29977. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29977
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29978. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29978
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29979. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29979
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29980. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29980
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29981. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29981
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29982. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29982
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)79-＞80とは逆へ79より.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29983. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29983
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)79-＞80とは逆へ79より.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29984. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29984
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29985. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29985
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29986. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29986
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29987. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29987
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29988. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 42K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29988
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29989. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29989
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29990. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29990
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)隣.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29991. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29991
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)さらに.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29992. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29992
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)さらに　大絞り.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29993. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29993
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29994. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29994
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Dislない部分.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29995. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29995
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29996. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29996
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29997. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29997
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29998. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29998
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)かなり厚い部分　別のgrain.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29999. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29999
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)やや厚い部分　別のgrain.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30000. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30000
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)やや厚い部分　別のgrain.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30001. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30001
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30002. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30002
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30003. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, BF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30003
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30004. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30004
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30005. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30005
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30006. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30006
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30007. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30007
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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