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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30058. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30058
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30059. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30059
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30060. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30060
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30061. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30061
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30062. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30062
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30063. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30063
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30064. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30064
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30065. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30065
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30066. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30066
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30067. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30067
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30068. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30068
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30069. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30069
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30070. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30070
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30071. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30071
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30072. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30072
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30073. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30073
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30074. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30074
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30075. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30075
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30076. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30076
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30077. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30077
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30078. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30078
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30079. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30079
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30080. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30080
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30081. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30081
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30082. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30082
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30083. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30083
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30084. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30084
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30085. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30085
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30086. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30086
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30087. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30087
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30088. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30088
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30089. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30089
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30090. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30090
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30091. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30091
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30092. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S, BF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30092
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30093. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30093
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30094. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30094
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30095. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30095
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30096. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, BF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30096
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)よごれあり.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30097. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30097
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30098. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30098
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32238. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32238
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1968. 10. 9.」.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32239. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32239
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32240. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32240
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32241. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, ED., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32241
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32242. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32242
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)dislocation.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32243. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32243
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32244. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32244
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32245. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32245
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32246. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32246
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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