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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32297. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32297
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32298. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32298
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32299. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32299
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32300. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32300
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32301. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32301
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32302. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32302
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32303. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32303
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32304. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32304
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32305. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32305
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32306. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32306
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32307. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32307
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32308. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32308
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32309. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32309
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32310. Fe, A267, RTNS-II, BD, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32310
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A267. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)52K.

(備考)contamination多い.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32311. Fe, A267, RTNS-II, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32311
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A267. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32312. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32312
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上8（-）黒9（40）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32313. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32313
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32314. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32314
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32315. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32315
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32316. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32316
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32317. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32317
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32318. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32318
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上1（-）黒8（320）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32319. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32319
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32320. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32320
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32321. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32321
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32322. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32322
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32323. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32323
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下3.5（＋）赤2（10）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32324. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32324
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32325. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32325
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32326. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32326
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32327. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32327
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32328. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32328
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32329. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32329
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32330. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32330
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32331. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32331
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32332. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32332
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

(備考)上1（-）赤10（180）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32333. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32333
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32334. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32334
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32335. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32335
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32336. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32336
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32337. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32337
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32338. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32338
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下9.5（＋）赤13（100）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32339. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32339
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32340. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32340
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32341. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32341
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32342. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32342
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32343. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32343
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32344. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32344
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上9（-）黒1（60）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32345. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32345
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32346. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32346
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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