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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32698. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32698
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32699. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32699
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32700. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32700
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32701. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32701
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32702. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32702
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS.

(備考)B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32703. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32703
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32704. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32704
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32705. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32705
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　　ST.2　　-17　赤6（320）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32706. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32706
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32707. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32707
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32708. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32708
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A　　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32709. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32709
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32710. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32710
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32711. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32711
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32712. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32712
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32713. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32713
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32714. DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32714
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32715. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32715
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1　　-4　黒9（300）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32716. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32716
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32717. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32717
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32718. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32718
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32719. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32719
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32720. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32720
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32721. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32721
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32722. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32722
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32723. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32723
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　　＋3.5　黒13（340）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32724. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32724
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32725. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32725
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32726. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32726
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32727. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32727
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32728. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32728
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32729. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32729
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32730. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32730
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)厚い.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32731. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32731
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別のgrain.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32732. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32732
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32733. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32733
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32734. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32734
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32735. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32735
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32736. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32736
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32737. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32737
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32738. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32738
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1　　-20　赤6（40）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32739. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32739
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32740. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32740
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32741. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32741
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32742. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32742
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32743. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32743
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32744. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32744
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32745. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32745
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32746. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32746
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　　-12.5　赤2（200）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32747. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32747
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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