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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32748. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32748
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32749. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32749
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32750. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32750
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32751. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF, 100K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32751
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32752. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32752
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32753. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32753
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32754. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32754
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32755. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32755
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32756. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32756
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32757. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32757
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32758. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32758
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32759. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32759
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32760. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32760
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32761. Cu, A867, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32761
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A867. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32762. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32762
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　α　-6.2　黒2（220）.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32763. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32763
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32764. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32764
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32765. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32765
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32766. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32766
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32767. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32767
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32768. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32768
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32769. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32769
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32770. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32770
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　-8.0　黒10（140）.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32771. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32771
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32772. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32772
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32773. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32773
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32774. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32774
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　α　-1.0　黒1（240）.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32775. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32775
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32776. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32776
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32777. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32777
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32778. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32778
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32779. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32779
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32780. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32780
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32781. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32781
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32782. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32782
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32783. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32783
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32784. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32784
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32785. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32785
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32786. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32786
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32787. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32787
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32788. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32788
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32789. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32789
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　β　　＋6.5、黒1（140）.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32790. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32790
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　　β.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32791. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32791
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　β.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32792. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32792
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32793. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32793
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32794. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32794
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32795. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32795
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32796. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32796
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32797. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32797
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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