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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32998. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32998
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32999. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32999
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33000. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, ED, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33000
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33001. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33001
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33002. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33002
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33003. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33003
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　　＋2、赤0～3（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33004. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33004
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33005. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33005
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33006. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33006
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33007. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33007
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　＋10.5　赤9～12（180）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33008. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33008
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33009. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33009
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33010. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33010
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33011. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33011
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33012. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33012
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33013. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33013
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33014. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33014
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33015. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33015
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33016. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33016
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33017. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33017
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33018. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33018
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33019. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33019
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33020. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33020
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33021. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33021
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33022. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33022
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33023. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33023
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33024. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33024
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)下8.5（＋）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33025. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33025
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)黒3（320）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33026. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33026
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33027. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33027
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33028. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33028
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33029. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33029
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上4.5（-）　黒1（120）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33030. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33030
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33031. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33031
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33032. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33032
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33033. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33033
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33034. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33034
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33035. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33035
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33036. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33036
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33037. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33037
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33038. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33038
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33039. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33039
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33040. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33040
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33041. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33041
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33042. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33042
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33043. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33043
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33044. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33044
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33045. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33045
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33046. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33046
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S.

(備考)下13.5（＋）赤14（220）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33047. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33047
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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