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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10554. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10554
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10555. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10555
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10556. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10556
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10557. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10557
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10558. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10558
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10559. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10559
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10560. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10560
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10561. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10561
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10562. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10562
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10563. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10563
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10564. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10564
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10565. Cu, G902, RTNS-II, R.T.(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10565
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10566. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10566
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10567. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10567
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10568. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10568
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10569. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10569
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10570. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10570
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10571. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10571
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)逆隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10572. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10572
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10573. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10573
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10574. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10574
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10575. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10575
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10576. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10576
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10577. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10577
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10578. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10578
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10579. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10579
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10580. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10580
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10581. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10581
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10582. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10582
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10583. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10583
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10584. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10584
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10585. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10585
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)さらに隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10586. Cu-2Si, G412, RTNS-II, R.T.(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10586
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G412. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10587. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10587
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10588. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10588
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10589. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10589
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10590. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10590
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (反射ベクトルg)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10591. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10591
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10592. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10592
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s中.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10593. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10593
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (反射ベクトルg)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10594. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10594
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10595. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10595
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s大.

(備考)隣.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10596. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10596
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10597. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10597
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (反射ベクトルg)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10598. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10598
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10599. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10599
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10600. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10600
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10601. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10601
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10602. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10602
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10603. Cu-2Ge, G103, RTNS-II, R.T.(Fin), S, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10603
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G103. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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