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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33749. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33749
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33750. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33750
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33751. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33751
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)FC＋5.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33752. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33752
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33753. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33753
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33754. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33754
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33755. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33755
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33756. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33756
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33757. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33757
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33758. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33758
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)FC＋3　　上でステレオとった視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33759. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33759
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)上でステレオとった視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33760. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33760
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3　　上でステレオとった視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33761. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33761
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33762. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33762
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33763. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33763
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　-14黒　2（220）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33764. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33764
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33765. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33765
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33766. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33766
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33767. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33767
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33768. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33768
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33769. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33769
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33770. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33770
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33771. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33771
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33772. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33772
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2　-5　赤2（200）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33773. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33773
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33774. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33774
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33775. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33775
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33776. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33776
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33777. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33777
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33778. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33778
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33779. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33779
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33780. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33780
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33781. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33781
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33782. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33782
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33783. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33783
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)ステレオのある視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33784. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33784
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)FC＋3　　ステレオのある視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33785. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33785
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ステレオのある視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33786. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33786
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)FC＋3　　ステレオのある視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33787. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33787
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ステレオのある視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33788. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33788
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　-13黒5（260）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33789. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33789
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33790. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33790
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33791. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33791
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33792. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33792
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33793. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33793
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33794. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33794
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33795. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33795
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33796. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33796
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2　-20（0）赤0（100）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33797. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33797
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33798. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33798
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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