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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33799. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33799
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33800. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33800
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33801. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33801
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33802. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33802
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33803. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33803
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1に近い.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33804. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33804
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33805. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33805
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33806. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33806
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33807. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33807
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33808. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33808
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)Stereoのpart.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33809. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33809
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33810. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33810
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33811. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33811
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33812. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33812
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33813. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33813
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33814. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 21K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33814
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33815. Cu, RTNS-II, 290℃, S, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33815
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33816. Cu, RTNS-II, 290℃, S, BF, 21K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33816
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)ｓ中.

(備考)voids.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33817. Cu, RTNS-II, 290℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33817
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33818. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33818
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33819. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33819
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33820. Cu, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33820
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33821. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33821
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35470. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35470
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)EMきれい　α　上20（-）黒3（20）　小さなものあるSFT?. 日付元記載「61年12月1日」.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35471. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35471
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35472. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35472
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35473. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35473
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(5).

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35474. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35474
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　下14（-）黒9（10）.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35475. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35475
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35476. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35476
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35477. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35477
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35478. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35478
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35479. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35479
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(4).

(備考)β　　　下20（-）黒9（0）.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35480. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35480
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(5).

(備考)β.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35481. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35481
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35482. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, 100K., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35482
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35483. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35483
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35484. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35484
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35485. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35485
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35486. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35486
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35487. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35487
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35488. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35488
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35489. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35489
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35490. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35490
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)きれい　小さなものある　上1.5(-)黒2（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35491. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35491
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35492. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35492
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35493. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35493
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35494. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35494
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35495. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35495
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下9（＋）赤2（300）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35496. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35496
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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