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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35547. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35547
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35548. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35548
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35549. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35549
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35550. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35550
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　＋3赤6（40）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35551. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35551
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35552. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35552
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35553. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35553
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35554. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35554
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35555. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35555
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35556. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35556
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35557. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35557
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

(備考)FM＋5.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35558. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35558
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1　＋10黒1（130）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35559. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35559
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35560. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35560
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35561. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35561
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35562. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35562
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35563. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35563
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35564. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35564
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35565. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35565
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35566. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35566
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35567. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35567
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　＋9.5赤6（240）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35568. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35568
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35569. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35569
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35570. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35570
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35571. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35571
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35572. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35572
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35573. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35573
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣の視野.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35574. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35574
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35575. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35575
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35576. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35576
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　＋19赤6（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35577. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35577
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35578. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35578
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35579. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35579
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35580. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35580
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35581. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35581
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35582. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35582
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35583. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35583
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35584. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35584
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35585. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35585
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　＋27赤6（340）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35586. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35586
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35587. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35587
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35588. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35588
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35589. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35589
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35590. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35590
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35591. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35591
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35592. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35592
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35593. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35593
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35594. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35594
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35595. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35595
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35596. Ferr, α275 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35596
範囲と内容

(試料)Ferr. (EM/D3)EM. (試料番号)α275 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)きれい　下16（＋）赤（0）何もなし.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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