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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35847. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35847
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35848. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35848
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35849. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35849
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35850. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35850
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35851. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35851
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)大.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35852. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35852
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35853. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35853
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)大.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35854. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35854
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)大.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35855. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35855
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)大.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35856. Cu-0.05Ge, π013　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35856
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)π013　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35857., [1986年12月3日.]

 アイテム
資料番号: O-35857
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1986年12月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35858. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35858
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0s＞0.

(備考)A 　α　-21.8　黒4（0）　ボイドあり. 日付元記載「1986. 12. 5.(Fri).」.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35859. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35859
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35860. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35860
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35861. Ni, JOYO, 1., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35861
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

(備考)A and/or B　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35862. Ni, JOYO, 1., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35862
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

(備考)A and/or B　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35863. Ni, JOYO, 1, DF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35863
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35864. Ni, JOYO, 1, DF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35864
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35865. Ni, JOYO, 1, DF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35865
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35866. Ni, JOYO, 1, ED., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35866
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35867. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35867
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35868. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35868
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35869. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35869
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35870. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35870
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　　14.6　黒2.5（220）.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35871. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35871
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35872. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35872
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35873. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35873
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35874. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35874
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35875. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35875
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)C　β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35876. Ni, JOYO, 1, ED., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35876
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35877. Ni, JOYO, 1, ED., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35877
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35878. Ni, JOYO, 1, BF, 21K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35878
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Disl.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35879. Ni, JOYO, 1, BF, 21K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35879
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB＋disl.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35880. Ni, JOYO, 1, BF, 21K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35880
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB＋disl.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35881. Ni, JOYO, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35881
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35882. Ni, JOYO, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35882
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35883. Ni, JOYO, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35883
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35884. Ni, JOYO, 1, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35884
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α　　-2.4　黒1（120）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35885. Ni, JOYO, 1, DF, ↓., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35885
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35886. Ni, JOYO, 1, BF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35886
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35887. Ni, JOYO, 1, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35887
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35888. Ni, JOYO, 1, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35888
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　　-11.0　黒2（200）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35889. Ni, JOYO, 1, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35889
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35890. Ni, JOYO, 1, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35890
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35891. Ni, JOYO, 2, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35891
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Void入り　A　α　-29.6　黒12（200）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35892. Ni, JOYO, 2, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35892
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35893. Ni, JOYO, 2, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35893
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35894. Ni, JOYO, 2, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35894
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35895. Ni, JOYO, 2, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35895
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35896. Ni, JOYO, 2, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35896
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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