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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36104. Ferri, RTNS-II, 200℃., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36104
範囲と内容

(試料)Ferri. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36105. Ferri, RTNS-II, 200℃., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36105
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36106. Ferri, RTNS-II, 200℃., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36106
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36107. Ferri, RTNS-II, 200℃., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36107
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36108. Ferri, RTNS-II, 200℃., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36108
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36109. Ferri, RTNS-II, 200℃., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36109
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36110. Ferri, RTNS-II, 200℃., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36110
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36111. Ferri, RTNS-II, 200℃, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36111
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36112. Ferri, RTNS-II, RT., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36112
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)何もなし？.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36113. Ferri, RTNS-II, RT., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36113
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)何かある？.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36114. Ferri, RTNS-II, RT., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36114
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36115. Ferri, RTNS-II, RT., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36115
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36116. Ferri, RTNS-II, RT., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36116
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36117. Ferri, RTNS-II, RT., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36117
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36118. Ferri, RTNS-II, RT., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36118
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36119. Ferri, RTNS-II, RT, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36119
範囲と内容

(試料)Ferri. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36120. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36120
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocationたくさん入っている.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36121. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36122. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他のgrain　B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36123. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36124. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36125. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36126. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36127. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36128. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36129. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36130. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36131. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36132. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36133. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36134. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36135. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36136. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36136
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α　　0.0　赤1.0（200）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36137. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36138. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36139. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36140. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36141. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　　-6.0　赤6.0（60）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36142. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36143. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36144. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α　　　-31.2　赤22（240）　near＜111＞.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36145. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36146. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36147. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α　.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36148. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)？　E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36149. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)E　α’　-26　赤18（280）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36150. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36150
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36151. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36152. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36153. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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