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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36454. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)A　　loop.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36455. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36455
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36456. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36456
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36457. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36457
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36458. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36458
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36459. Ni, B115, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36459
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B115. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36460. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36460
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α　　-8.2黒1（40）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36461. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, ↓., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36461
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36462. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36462
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36463. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36463
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36464. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36464
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36465. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36465
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　β　　-14.2黒7（20）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36466. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36466
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36467. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36467
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36468. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36468
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36469. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36469
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36470. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36470
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α　　-14.2　黒5（100）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36471. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, ↓., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36471
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36472. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36472
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36473. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36473
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36474. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36474
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36475. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36475
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36476. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36476
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36477. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36477
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36478. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36478
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36479. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36479
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36480. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36480
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36481. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36481
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　β -8.2黒1（120）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36482. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, ↓., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36482
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓.

(備考)D β .

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36483. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36483
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D β .

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36484. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36484
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)F　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36485. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36485
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　　下16.5（＋）黒14（140）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36485. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36485
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)F　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36486. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36486
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36486. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36486
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3 step over.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36487. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36487
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36487. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36487
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3 step under.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36488. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36488
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36489. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36489
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36490. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36490
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36491. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36491
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36492. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36492
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36493. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36493
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36494. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36494
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36495. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36495
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　下6（＋）黒12（20）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36496. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36496
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36497. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36497
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36498. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36498
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36499. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36499
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36500. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36500
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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