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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36701. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36701
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　map.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36702. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36702
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　　st.1　-3赤2（260）黒3（20）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36703. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36703
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36704. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36704
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36705. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36705
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36706. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36706
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36707. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36707
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C　　st.2　-2.5黒9（20）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36708. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36708
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36709. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36709
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36710. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36710
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36711. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36711
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36712. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36712
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36713. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36713
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36714. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36714
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36715. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36715
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)map.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36716. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36716
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)map.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36717. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36717
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)map.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36718. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36718
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36719. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36719
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36720. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36720
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α　-2.6黒1.5（240）. 日付元記載「1986. 12. 8　朝.」.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36721. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36721
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α　.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36722. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36722
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α　.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36723. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36723
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36724. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, ED., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36724
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36725. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36725
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　　-5.5黒10（0）.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36726. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36726
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36727. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36727
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α　　-7.3黒29（100）.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36728. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36728
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36729. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36729
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36730. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36730
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36731. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36731
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36732. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36732
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36733. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36733
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)E　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36734. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, ED., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36734
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36735. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36735
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　β　　-6.5黒20（340）.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36736. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

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資料番号: O-36736
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　β.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36737. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

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資料番号: O-36737
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E　β.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36738. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, ED., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36738
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36739. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-36739
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-15赤9～12（220）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36740. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36740
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36741. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36741
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36742. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36742
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36743. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36743
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36744. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36744
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36745. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36745
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β　　-9.5赤3～6（340）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36746. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36746
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36747. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36747
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36748. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36748
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36749. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36749
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36750. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36750
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Aの隣.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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