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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36951. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36951
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　st.1　＋11.5黒2（260）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36952. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36952
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36953. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36953
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36954. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36954
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36955. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36955
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36956. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36956
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　st.2　＋19.5赤1（240）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36957. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36957
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36958. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36958
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36959. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36959
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36960. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36960
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36961. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36961
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　　st.2　＋17赤2（220）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36962. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36962
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36963. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36963
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36964. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36964
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36965. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36965
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36966. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36966
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36967. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36967
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　　st.2　-10黒2（240）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36968. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36968
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36969. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36969
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36970. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36970
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36971. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36971
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36972. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36972
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW.

(備考)map.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36973. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36973
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　-3赤2（40）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36974. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36974
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36975. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36975
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36976. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36976
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36977. Cu, λ274　木下, RTNS-II, RT　, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36977
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ274　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36978. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36978
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1 ＋20 赤12（0）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36979. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36979
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A .

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36980. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36980
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36981. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36981
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36982. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36982
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36983. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36983
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36984. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36984
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)map.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36985. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36985
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　　st.1　＋20赤12（60）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36986. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36986
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36987. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36987
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36988. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36988
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36989. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36989
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)B　map.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36990. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36990
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36991. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36991
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　　st.2　＋14赤10（20）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36992. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36992
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36993. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36993
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36994. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36994
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36995. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36995
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　＋13.5赤10（340）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36996. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36996
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36997. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36997
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36998. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36998
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36999. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36999
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37000. Cu, K067　, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37000
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K067　. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　ｓｔ.1　-10赤7（120）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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