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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37051. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37051
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37052. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37052
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37053. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37053
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37054. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37054
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37055. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37055
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37056. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37056
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β’上16（-）赤2（220）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37057. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37057
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37058. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37058
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37059. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37059
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37060. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37060
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37061. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37061
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37062. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37062
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α’　下7.5（-）赤21（140）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37063. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37063
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37064. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37064
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37065. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37065
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37066. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37066
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37067. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37067
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37068. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, LM., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37068
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (条件・倍率等)LM.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37069. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37069
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37070. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37070
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37071. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37071
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-18赤6.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37072. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37072
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37073. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37073
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37074. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37074
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37075. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37075
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β　-8.5赤3～6（80）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37076. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37076
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37077. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37077
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37078. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37078
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37079. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37079
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37080. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37080
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37081. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37081
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α　　18赤9～12（100）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37082. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37082
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37083. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37083
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　α　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37084. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37084
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-11.5赤6～9（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37085. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37085
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37086. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37086
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37087. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37087
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)FとDの間.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37088. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37088
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-13黒12～15（150）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37089. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37089
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37090. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37090
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Bのとなり.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37091. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37091
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　β　　-8.5黒6～9（260）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37092. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37092
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37093. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37093
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37094. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37094
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37095. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37095
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37096. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37096
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)試料厚くゴミが出てくる.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37097. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37097
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37098. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37098
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37099. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37099
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37100. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37100
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

(備考)ボツ.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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