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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37101. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37101
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37102. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37102
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37103. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37103
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37104. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37104
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37105. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37105
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Bの隣　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37106. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37106
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β　　-6.5黒6～9（60）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37107. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37107
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37108. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37108
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37109. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37109
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37110. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37110
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37111. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37111
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37112. Ni, A012, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37112
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37113. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37113
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)HVEM用　A　α　＋6.5赤3～6（160）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37114. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37114
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37115. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 31K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37115
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37116. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37116
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37117. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37118. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37119. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 31K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37120. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　　-8赤3～6（140）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37121. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37122. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37123. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37124. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37125. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37126. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37127. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)他のgrain　C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37128. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37129. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, BF, 11K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37130. Ni, A695　木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37131. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37131
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　下23（＋）黒5（280）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37132. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37132
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37133. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37133
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37134. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37134
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37135. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37135
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37136. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37136
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37137. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37137
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　下23.5赤2（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37138. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37138
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37139. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37139
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37140. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37140
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37141. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37141
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37142. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37142
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β’　下23（＋）赤2（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37143. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37143
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37144. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37144
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37145. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37145
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37146. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37146
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37147. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37147
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37148. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37148
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α’　下23.5（＋）黒5（250）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37149. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37149
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37150. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37150
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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