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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7069. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7069
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7070. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7070
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7071. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7071
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7072. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7072
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7073. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7073
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7074. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7074
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7075. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7075
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7076. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7076
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7077. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7077
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7078. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7078
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7079. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7079
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7080. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7080
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7081. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7081
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7082. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7082
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7083. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7083
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7084. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7084
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7085. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7085
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7086. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 20K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7086
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7087. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7087
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7088. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7088
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7089. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7089
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7090. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7090
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α’.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7091. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7091
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B α’.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7092. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7092
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C α’.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7093. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7093
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D α’.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7094. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7094
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7095. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7095
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7096. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7096
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7097. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7097
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7098. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7098
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7099. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7099
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7100. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7100
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7101. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7101
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7102. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7102
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7103. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7103
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7104. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7104
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7105. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7105
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7106. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7106
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7107. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7107
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7108. Ni-2Sn, J793, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7108
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7109. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7109
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7110. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7110
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7111. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7111
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7112. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7112
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7113. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7113
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7114. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7114
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7115. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7115
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7116. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7116
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7117. Ni-2Sn, RTNS-II, 290℃, W., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7117
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7121. Cu, RTNS-II, W 横, DF, 73K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7121
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W 横. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Ni alloy,Cu alloyは新しい200CXで見る.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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