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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44950. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44950
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　＋11赤黒0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44951. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44951
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44952. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44952
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44953. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44953
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44954. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44954
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44955. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44955
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44956. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44956
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44957. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44957
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44958. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44958
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2　＋4.5赤7.5（180）.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44959. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44959
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44960. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44960
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44961. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44961
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44962. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44962
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44963. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44963
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44964. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44964
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44965. Cu-2Sn, G583　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44965
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G583　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44966. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44966
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　-5赤黒0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44967. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44967
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44968. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44968
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44969. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44969
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44970. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44970
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44971. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44971
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44972. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44972
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44973. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44973
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2　-3黒6（0）.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44974. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44974
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44975. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44975
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44976. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44976
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44977. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44977
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44978. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44978
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44979. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44979
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　＋3黒6（100）.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44980. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44980
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44981. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44981
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44982. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44982
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44983. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44983
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44984. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44984
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44985. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44985
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44986. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44986
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)st.2　＋8黒6（0）.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44987. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44987
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44988. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44988
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44989. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44989
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44990. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44990
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44991. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44991
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44992. Ag, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., 1987. 7. 21 7:00 pm.

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資料番号: O-44992
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200near110. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)中性子平面入射　A　α　＋13.5黒6（40）. 日付元記載「1987. 7. 21 7:00 pm.」.

日付: 1987. 7. 21 7:00 pm.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44993. Ag, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., 1987. 7. 21 7:00 pm.

 アイテム
資料番号: O-44993
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: 1987. 7. 21 7:00 pm.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44994. Ag, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., 1987. 7. 21 7:00 pm.

 アイテム
資料番号: O-44994
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: 1987. 7. 21 7:00 pm.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44995. Ag, RTNS-II, RT, S, ED., 1987. 7. 21 7:00 pm.

 アイテム
資料番号: O-44995
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1987. 7. 21 7:00 pm.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44996. Ag, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., 1987. 7. 21 7:00 pm.

 アイテム
資料番号: O-44996
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　＋5.7　黒8（300）.

日付: 1987. 7. 21 7:00 pm.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44997. Ag, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., 1987. 7. 21 7:00 pm.

 アイテム
資料番号: O-44997
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: 1987. 7. 21 7:00 pm.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44998. Ag, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., 1987. 7. 21 7:00 pm.

 アイテム
資料番号: O-44998
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　β.

日付: 1987. 7. 21 7:00 pm.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44999. Ag, RTNS-II, RT, S, ED., 1987. 7. 21 7:00 pm.

 アイテム
資料番号: O-44999
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1987. 7. 21 7:00 pm.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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