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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45100. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45100
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45101. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45101
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45102. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45102
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45103. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45103
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45104. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45104
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45105. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45105
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45106. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45106
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45107. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45107
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)2・1/2法　　Area　C　γ　Just.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45108. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45108
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　3.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45109. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45109
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　6.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45110. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45110
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　3.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45111. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45111
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　6.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45112. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45112
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45113. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45113
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)やり直し.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45114. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45114
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45115. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45115
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45116. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45116
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞.

(備考)A　δ　＋1.8赤11（220）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45117. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45117
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)B　δ.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45118. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45118
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)C　δ.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45119. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45119
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45120. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45120
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)βの誓うに戻って　＋15.2黒4（320）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45121. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45121
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45122. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45122
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45123. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45123
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45124. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, LM., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45124
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (条件・倍率等)LM.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45125. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)e-irradiation　　A　α　-3.5赤7（160）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45126. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45127. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45128. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45129. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45130. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45131. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45132. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45133. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45134. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45135. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45136. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Bの上　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45137. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Bの上の上　αの上の上.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45138. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45139. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45140. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　-10.5　赤7（80）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45141. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45142. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45143. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45144. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45145. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45146. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45147. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Bの上　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45148. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Bの上の上　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45149. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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