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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45959. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45959
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45960. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45960
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45961. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45961
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45962. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45962
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45963. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45963
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45964. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45964
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45965. Cu-2Ge, G112fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45965
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G112fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下3.5（＋）赤4（60）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45966. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45966
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45967. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45967
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45968. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45968
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45969. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45969
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45970. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45970
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45971. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45971
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45972. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45972
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45973. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45973
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下3.（＋）赤4（60）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45974. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45974
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45975. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45975
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45976. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45976
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45977. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45977
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45978. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45978
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45979. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45979
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45980. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45980
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45981. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45981
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下1.5（＋）赤5（180）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45982. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45982
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45983. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45983
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45984. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45984
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45985. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45985
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45986. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45986
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45987. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45987
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45988. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45988
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45989. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45989
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下1.5（＋）赤4（160）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45990. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45990
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45991. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45991
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45992. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45992
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45993. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45993
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45994. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45994
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45995. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45995
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45996. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45996
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45997. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45997
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45998. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45998
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45999. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45999
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　下5.5（＋）黒11（340）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46000. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46000
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46001. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46001
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46002. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46002
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46003. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46003
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＜＜0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46004. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46004
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46005. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46005
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46006. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46006
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46007. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46007
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46008. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46008
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　下11.5（＋）黒14（320）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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