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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46109. Ni, RTNS-II, 450℃, S, 31K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46109
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46110. Ni, RTNS-II, 450℃, S, 31K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46110
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46111. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46111
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46112. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46112
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46113. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46113
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46114. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46114
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46115. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46115
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46116. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46116
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)just.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46117. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46117
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)Medium大　2↷　.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46118. Ni, RTNS-II, 450℃, S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46118
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46119. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46119
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)1↶（justより）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46120. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46120
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)just　フォーカス変えても黒いvoid.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46121. Ni, RTNS-II, 450℃, S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46121
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46122. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46122
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46123. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46123
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)just.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46124. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46124
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)FC-3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46125. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46125
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)FC＋4.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46126. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46126
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)just.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46127. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46127
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)-3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46128. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46128
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46129. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46129
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)just.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46130. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46130
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)-3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46131. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46131
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46132. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46132
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)just.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46133. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46133
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)-3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46134. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46134
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46135. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46135
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)just.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46136. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46136
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)-3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46137. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46137
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46138. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46138
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)just.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46139. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46139
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)-3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46140. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46140
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)3.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46141. Ni, RTNS-II, 450℃, S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46141
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46564. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46564
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)S-2　290℃D3研磨観察（void入り）＋研磨＋obsの350℃SS再照射　A　st.1　-4.5黒3（340）　map21　36304に対応.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46565. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46565
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46566. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46566
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)A st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46567. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46567
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46568. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46568
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46569. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46569
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46570. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46570
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46571. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46571
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46572. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46572
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46573. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46573
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46574. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46574
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46575. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46575
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46576. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46576
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46577. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46577
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46578. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46578
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46579. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46579
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46580. Cu, S-2, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46580
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)S-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)Bの隣st.1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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