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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11310. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11310
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

(備考)題目にTW,2%Tens.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11311. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11311
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11312. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11312
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11313. Ni, RTNS-II, 300K, M, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11313
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11314. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11314
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11315. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11315
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11316. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11316
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11317. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11317
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11318. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 3.74., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11318
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.74.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11319. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11319
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11320. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11320
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11321. Ni, RTNS-II, 300K, M, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11321
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11322. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11322
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11323. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11323
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11324. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11324
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11325. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11325
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11326. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 3.74., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11326
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.74.

(備考)題目にTW,2%Tens.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11327. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11327
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11328. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11328
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11329. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11329
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11330. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11330
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11331. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11331
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11332. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11332
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11333. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11333
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11334. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11334
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11335. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11335
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11336. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11336
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11337. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11337
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11338. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11338
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11339. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11339
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11340. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11340
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11341. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11341
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11342. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11342
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11343. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11343
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11344. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11344
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11345. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11345
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11346. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11346
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11347. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11347
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11348. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11348
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11349. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11349
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s中〜小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11350. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11350
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11351. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11351
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11352. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11352
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11353. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, ED., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11353
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11354. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11354
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11355. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11355
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11356. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11356
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11357. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11357
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11358. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11358
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11359. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11359
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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