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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49383. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49383
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49384. Au, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49384
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49385. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49385
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49386. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49386
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49387. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49387
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49388. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49388
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49389. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49389
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49390. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49390
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49391. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49391
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49392. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49392
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49393. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49393
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49394. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49394
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49395. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49395
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49396. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49396
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49397. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49397
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49398. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49398
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49399. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49399
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49400. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49400
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49401. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49401
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49402. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49402
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49403. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49403
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49404. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49404
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49405. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49405
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49406. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49406
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49407. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49407
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49408. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49408
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49409. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49409
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49410. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49410
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49411. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49411
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49412. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49412
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49413. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49413
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49414. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49414
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49415. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49415
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49416. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49416
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49417. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49417
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49418. 森, B01, RTNS-II, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49418
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49419. 森, B01, RTNS-II, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49419
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49420. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49420
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49421. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49421
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49422. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49422
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49423. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49423
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49424. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49424
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49425. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49425
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49426. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49426
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （3）.

(備考)α.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49427. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49427
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （3）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49428. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49428
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （3）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49429. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49429
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49430. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49430
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49431. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49431
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49432. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49432
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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