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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49483. Al6Mn, B11, RTNS-II, RT., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49483
範囲と内容

(試料)Al6Mn. (EM/D3)D3. (試料番号)B11. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT.

(備考)よごれ①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49484. Al6Mn, B11, RTNS-II, RT., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49484
範囲と内容

(試料)Al6Mn. (EM/D3)D3. (試料番号)B11. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT.

(備考)よごれ②.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49485. Al6Mn, B11, RTNS-II, RT., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49485
範囲と内容

(試料)Al6Mn. (EM/D3)D3. (試料番号)B11. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT.

(備考)よごれ①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49824. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49824
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49825. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49825
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)No　void.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49826. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49826
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49827. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49827
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49828. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49828
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)少し隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49829. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49829
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)更に隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49830. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49830
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49831. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49831
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49832. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49832
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49833. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49833
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49834. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49834
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49835. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49835
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49836. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49836
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49837. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49837
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49838. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49838
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49839. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49839
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49840. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49840
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49841. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49841
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49842. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49842
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49843. Cu, RTNS-II, 350℃ , S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49843
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49844. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49844
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49845. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49845
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49846. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49846
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49847. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49847
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49848. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49848
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49849. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49849
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49850. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49850
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49851. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49851
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（110）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49852. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49852
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49853. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49853
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)voidなし.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49854. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49854
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49855. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49855
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49856. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49856
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49857. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49857
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49858. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49858
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49859. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49859
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49860. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49860
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49861. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49861
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（100）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49862. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49862
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49863. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49863
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49864. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49864
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49865. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49865
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49866. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49866
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)さらに隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49867. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49867
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49868. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49868
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49869. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49869
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49870. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49870
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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