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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49871. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49871
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（110）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49872. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49872
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と同じ傾き　Twinと思われる.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49873. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49873
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)場所は離れている.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49874. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49874
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49875. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49875
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49876. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49876
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49877. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49877
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49878. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49878
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49879. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49879
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49880. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49880
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い　再研磨.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49881. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49881
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49882. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49882
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49883. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49883
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49884. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49884
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49885. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49885
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49888. BF, 10K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49888
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　（0、赤0＋320）　A1T（110）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49889. BF, 10K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49889
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C0T（112）(-2.5黒＋340）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49890. BF, 10K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49890
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49891. BF, 10K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49891
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A3.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49892., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49892
範囲と内容

(備考)A4.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49893. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49893
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（-1、黒3＋100）C1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49894. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49894
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（-1、黒3＋100）C2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49895. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49895
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.1.

(備考)（-1、黒3＋60）A1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49896. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49896
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（-1、黒3＋200）A2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49897. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49897
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49898. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49898
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↙ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49899. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49899
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49900. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49900
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49901. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49901
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49902. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49902
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49903. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49903
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↗ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49904. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49904
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49905. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49905
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↙ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49906. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49906
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↙ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49907. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49907
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49908. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49908
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↗ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49909. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49909
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↑ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49910. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49910
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↖ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49911. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49911
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↖ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49912. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49912
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↙ｇ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49913. Fe, JOYO, 400℃, 1E+20, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49913
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋20. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49914. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF, 10K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49914
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)バウンダリー.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49915. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF, 10K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49915
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)①下20赤3＋40.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49916. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF, 25K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49916
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↖ｇ①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49917. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF, 25K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49917
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

(備考)↖ｇ①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49918. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF, 25K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49918
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↘g①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49919. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49919
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)↘g①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49920. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49920
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上と同じ　↘g①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49921. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49921
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)16と同じ　↖ｇ①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49922. Fe, JOYO, 400℃, 1E+21, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49922
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)1E＋21. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)16と同じ　↖ｇ①.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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