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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50323. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50323
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D3.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50324. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50324
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50325. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50325
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50326. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50326
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50327. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50327
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50328. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50328
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50329. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50329
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50330. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50330
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50331. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50331
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50332. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50332
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50333. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50333
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50334. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50334
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50335. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50335
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50336. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50336
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50337. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50337
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50338. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50338
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50339. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50339
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50340. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50340
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50989. Fe, JMTR, 200℃, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50989
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)なにもなし.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50990. Fe, JMTR, 200℃, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50990
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50991. Fe, JMTR, 200℃, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50991
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50992. Fe, JMTR, 200℃, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50992
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50993. Fe, JMTR, 200℃, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50993
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50994. Fe, JMTR, 200℃, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50994
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50995. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50995
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K.

(備考)多数のボイド.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50996. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50996
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)(－5黒)3＋20）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50997. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, DF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50997
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)(－5黒)3＋20）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50998. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 33K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50998
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)(－5黒)3＋20）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50999. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, DF, 33K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50999
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)(－5黒)3＋20）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51000. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51000
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51001. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51001
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)(－6赤3＋120）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51002. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 33K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51002
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)(－6赤3＋120）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51003. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51003
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（0黒0＋280）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51004. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 33K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51004
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51005. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 33K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51005
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（＋13黒6）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51006. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, BF, 33K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51006
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51007. Fe, A269, RTNS-II, 350℃, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51007
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51008. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51008
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51009. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51009
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)A1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51010. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51010
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)A2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51011. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51011
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)C.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51012. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51012
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)A3.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51013. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51013
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（＋5黒3＋180）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51014. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51014
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)A3.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51015. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 33K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51015
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51016. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, DF, 33K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51016
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51017. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, DF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51017
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ス1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51018. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51018
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)(＋5.5黒3＋280）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51019. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51019
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51020. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51020
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)(＋12黒6＋180）ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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