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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52293. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52293
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52294. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52294
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52295. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52295
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52296. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52296
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52297. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52297
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52298. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52298
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52299. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52299
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52300. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52300
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52301. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52301
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52302. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52302
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52303. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52303
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52304. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52304
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52305. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52305
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52306. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52306
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52307. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52307
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52308. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52308
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52309. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52309
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52310. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52310
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52311. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52311
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52312. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52312
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52313. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52313
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)＋-g.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52314. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52314
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52315. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52315
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52316. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52316
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52317. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52317
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52318. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52318
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52319. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52319
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52320. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52320
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52321. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52321
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)大きく回転.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52322. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52322
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52323. Fe, JMTRuncontroll, 300℃　11, ED., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52323
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52324., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52324
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52325. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 42K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52325
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52326. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52326
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52327. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 42K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52327
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52328. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, DF, 100K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52328
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52329. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52329
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52330. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52330
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52331. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52331
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52332. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52332
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52333. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52333
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52334. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52334
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52335. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52335
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52336. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52336
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52337. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52337
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52338. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52338
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52339. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, DF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52339
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52340. Ni-2Sn, JMTRuncontroll, 300℃　11, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52340
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)300℃　11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52341. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52341
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-52342. Ni-2Sn, JMTRcontroll, 300℃　01, BF, 52K., [1988年10月29日.]

 アイテム
資料番号: O-52342
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)300℃　01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年10月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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