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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54342. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54342
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54343. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54343
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

(備考)GB.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54344. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54344
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54345. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54345
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

(備考)GB.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54346. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54346
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54347. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54347
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

(備考)小傾角.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54348. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54348
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

(備考)小傾角.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54349. Ni-2Si, JMTR　controlled, 290℃, 4., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54349
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (照射量)4.

(備考)dislocationある深い所.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54350. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54350
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54351. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54351
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54352. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54352
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54353. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54353
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54354. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54354
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54355. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54355
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54356. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54356
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54357. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54357
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54358. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54358
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54359. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54359
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54360. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54360
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54361. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54361
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54362. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, ED., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54362
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)100.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54363. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, LM., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54363
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (条件・倍率等)LM.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54364. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54364
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54365. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54365
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54366. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54366
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54367. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54367
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54368. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54368
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54369. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54369
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54370. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54370
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54371. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54371
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54372. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54372
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54373. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54373
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54374. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54374
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54375. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54375
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54376. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, ED., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54376
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54377. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54377
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)前のとなりのgrain.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54378. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54378
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54379. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, DF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54379
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54380. Ni-2Cu, A110, JMTR　controlled, 290℃, BF, 5.2K., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54380
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A110. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.2K.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54381. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54381
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54382. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃, BF., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54382
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54383. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃, ED., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54383
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54384. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54384
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

(備考)反対のGB.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54385. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54385
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54386. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54386
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54387. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54387
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54388. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54388
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54389. Ni-2Cu, JMTR　controlled, 290℃., [1988年11月30日以降.]

 アイテム
資料番号: O-54389
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年11月30日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54390. Mo, RTNS-II, 550℃, S, DF, 100K., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54390
範囲と内容

(試料)Mo. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「'89 1/29」.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54391. Mo, RTNS-II, 550℃, S, BF, 100K., [19]'89 1/29.

 アイテム
資料番号: O-54391
範囲と内容

(試料)Mo. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89 1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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