メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54542. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54542
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54543. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54543
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54544. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54544
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54545. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 31K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54545
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54546. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54546
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)Void contrast　白-＞黒.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54547. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54547
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54548. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54548
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54549. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54549
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54550. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54550
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54551. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54551
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54552. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54552
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54554. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54554
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54555. ムライト, 8K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54555
範囲と内容

(試料)ムライト. (条件・倍率等)8K.

(備考)下3（＋）.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54556. ムライト, 8K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54556
範囲と内容

(試料)ムライト. (条件・倍率等)8K.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54557. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54557
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下5（＋）.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54558. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54558
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54559. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54559
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下3.5（＋）黒4.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54560. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54560
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54561. ムライト, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54561
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54562. ムライト, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54562
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)a.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54563. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54563
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ｂ　下16（＋）黒12.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54564. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54564
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下28.5赤4.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54565. ムライト, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54565
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)ｃ.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54566. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54566
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下1黒4.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54567. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54567
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上12.5黒8.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54568. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54568
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上26.5黒14.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54569. ムライト, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54569
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)D.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54570. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54570
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上35.5（-）黒18.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54571. ムライト, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54571
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54572. ムライト, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54572
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)F　きえた.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54573. ムライト, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54573
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)F　きえた.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54574. ムライト, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54574
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)F　きえた.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54575. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54575
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54576. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54576
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54577. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54577
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54578. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54578
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54579. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54579
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54580. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54580
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54581. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54581
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54582. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54582
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54583. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54583
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54584. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54584
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54585. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54585
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54586. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54586
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54587. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54587
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54588. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54588
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54589. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54589
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55410. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55410
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下7.5（＋）赤10（20）.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55411. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55411
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下10（＋）赤1（60）.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55412. ムライト, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55412
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下13.5（＋）黒12（120）.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ