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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56410. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, BF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56410
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56411. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56411
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56412. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56412
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56413. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56413
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56414. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56414
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)別の視野.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56415. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56415
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56416. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56416
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56417. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56417
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56418. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56418
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56419. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56419
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別のgrain.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56420. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, BF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56420
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56421. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56421
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56422. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56422
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56423. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56423
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56424. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56424
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56425. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56425
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56426. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56426
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56427. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56427
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56428. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, BF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56428
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56429. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56429
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56430. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56430
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56431. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56431
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56432. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56432
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56433. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56433
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56434. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56434
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56435. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56435
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56436. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56436
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56437. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, BF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56437
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56438. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56438
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56439. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56439
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56440. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56440
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56441. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56441
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56442. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56442
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56443. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56443
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56444. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56444
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56445. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56445
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56446. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56446
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56447. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 80K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56447
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)星の学電顕初写真.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56448. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56448
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)星の学.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56449. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56449
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)星の学　DD.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56450. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56450
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗　鈴木.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56451. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56451
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)鈴木.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56452. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56452
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)鈴木.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56453. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56453
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)鈴木　DD.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56454. Cu-2Ge, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56454
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56455. Cu-2Ge, RTNS-II, 90℃, S2, BF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56455
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56456. Cu-2Ge, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56456
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56457. Cu-2Ge, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56457
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56458. Cu-2Ge, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56458
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56459. Cu-2Ge, RTNS-II, 90℃, S2, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56459
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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