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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13200. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13200
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)～3g.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13201. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13201
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～3g.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13202. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13202
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～3g.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13203. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13203
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13204. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13204
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13205. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13205
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大3.5g.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13206. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13206
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13207. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13207
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13208. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13208
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13209. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13209
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13210. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13210
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13211. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13211
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13212. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13212
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13213. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13213
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13214. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13214
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13215. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13215
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13216. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13216
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13217. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13217
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13218. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13218
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13219. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13219
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13220. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13220
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13221. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13221
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13222. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13222
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13223. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13223
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13224. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13224
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13225. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13225
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13226. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13226
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13227. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13227
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13228. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13228
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13229. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13229
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)2つはずす.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13230. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13230
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13231. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13231
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13232. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13232
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13233. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13233
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13234. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13234
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13235. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13235
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13236. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13236
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13237. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13237
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13238. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13238
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13239. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13239
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13240. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K？., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13240
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K？.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13241. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13241
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13242. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13242
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13243. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13243
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)matrix.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13244. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13244
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13245. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13245
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13246. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13246
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13247. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13247
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13248. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13248
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13249. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13249
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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