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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13300. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13300
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13301. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13301
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13302. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13302
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13303. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13303
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13304. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13304
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13305. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13305
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13306. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13306
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13307. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13307
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13308. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13308
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13309. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13309
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13310. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13310
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13311. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13311
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13312. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13312
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13313. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13313
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13314. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13314
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13315. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13315
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13316. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13316
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13317. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13317
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13318. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13318
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13319. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13319
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13320. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13320
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13322. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13322
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13323. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13323
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13324. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13324
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13325. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13325
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13326. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13326
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13327. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13327
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13328. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13328
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13329. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13329
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13330. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13330
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13331. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13331
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13332. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13332
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13333. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13333
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13334. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13334
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13335. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13335
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13336. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13336
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13337. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13337
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13338. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13338
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13339. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13339
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13340. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13340
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13341. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13341
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13342. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13342
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13343. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13343
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13344. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13344
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13345. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13345
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13346. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13346
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13347. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13347
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13348. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13348
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13349. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13349
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13350. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13350
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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