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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59992. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59992
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59993. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59993
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)よごれひどい.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59994. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59994
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59995. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59995
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59996. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59996
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59997. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59997
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59998. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, BF, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59998
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59999. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59999
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60000. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60000
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60001. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60001
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60002. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60002
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60003. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60003
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60004. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60004
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60005. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60005
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60006. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 80K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60006
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)80K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60007. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60007
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60008. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60008
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60009. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60009
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60010. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60010
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60011. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60011
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60012. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60012
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)2-20.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60013. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60013
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60014. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60014
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60015. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60015
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61021. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61021
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)loop　組み写真用低倍写真.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61022. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61022
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61023. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61023
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61024. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61024
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61025. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61025
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61026. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61026
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61027. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61027
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61028. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61028
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61029. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61029
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61030. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61030
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61031. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61031
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61032. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61032
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61033. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61033
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200.

(備考)A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61034. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61034
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200.

(備考)B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61035. 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61035
範囲と内容

(条件・倍率等)11K.

(備考) 見開きに記載なし, 脱漏ヵ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61036. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61036
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61037. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61037
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61038. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61038
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61039. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61039
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61040. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61040
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61041. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61041
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61042. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61042
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61043. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61043
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61044. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61044
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)ボツ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61045. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61045
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61046. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61046
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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