メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65137. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65137
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65138. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65138
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65139. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65139
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65140. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65140
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65141. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65141
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65142. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65142
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65143. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65143
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65144. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65144
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65145. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65145
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65146. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65146
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65147. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65147
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65148. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65148
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65149. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65149
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65150. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65150
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map（not　0.0）.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81587. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81587
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α-8　＋-0　A. 日付元記載「1991. 7. 22.」.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81588. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81588
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　A.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81589. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81589
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　B.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81590. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81590
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　C.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81591. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81591
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α　A.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81592. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81592
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α　C.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81593. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81593
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α　A　boundary.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81594. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81594
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α　C　boundary.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81595. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, ED., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81595
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81596. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81596
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　-15黒9-12（240）A.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81597. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81597
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　B.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81598. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81598
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　C.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81599. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81599
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81600. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81600
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81601. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81601
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　A.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81602. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81602
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　C.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81603. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81603
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

(備考)β　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81604. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, ED., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81604
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81605. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81605
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81606. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81606
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81607. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81607
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81608. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81608
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81609. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 25K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81609
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)α位置.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81610. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81610
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)loop判定用　↘ｇ　α位置-10,0.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81611. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81611
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↖ｇ　α位置-10,0.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81612. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81612
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↘ｇ　β位置-16黒9-12（150）.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81613. Fe-0.5Ni, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 50K., 1991. 7. 22.

 アイテム
資料番号: O-81613
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↖ｇ　β位置-16黒9-12（150）.

日付: 1991. 7. 22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81614. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81614
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81615. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81615
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81616. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81616
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81617. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81617
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81618. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81618
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81619. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, BF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81619
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)別grain　細かいループたくさんできている。.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81620. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, DF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81620
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81621. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, DF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81621
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-81622. Fe-0.5Ni, JMTRUncontrolled, 400℃, DF, 25K., [1991年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-81622
範囲と内容

(試料)Fe-0.5Ni. (照射条件)JMTRUncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ