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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13502. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13502
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13503. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13503
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)under.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13504. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13504
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13505. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13505
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13506. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13506
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13507. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13507
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13508. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13508
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13509. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13509
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13510. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13510
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13511. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13511
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13512. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13512
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13513. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13513
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13514. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13514
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13515. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13515
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13516. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13516
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13517. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13517
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13518. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13518
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13519. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13519
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13520. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13520
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13521. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13521
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13522. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13522
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13523. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13523
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13524. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13524
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13525. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13525
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13526. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13526
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13527. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13527
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13528. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13528
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13529. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13529
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13530. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13530
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13531. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13531
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13532. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13532
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13533. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13533
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13534. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13534
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13535. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13535
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13536. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13536
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13537. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13537
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13538. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13538
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13539. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13539
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13540. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13540
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13541. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13541
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13542. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13542
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13543. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13543
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13544. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13544
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13545. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13545
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13546. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13546
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13547. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13547
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13548. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13548
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13549. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13549
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13550. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13550
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13551. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13551
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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